7.5
Élevée
CVE-2025-47318 Transient DOS while parsing the EPTM test control message to get the test pattern
Description
Transient DOS while parsing the EPTM test control message to get the test pattern.
Produits et versions touchés
| Produit | Versions touchées | Corrigé en |
|---|---|---|
| Snapdragon | Versions non publiées |
Références
- docs.qualcomm.com docs.qualcomm.com
Chronologie
- Publiée
- Dernière modification
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